ivdon3@bk.ru
Разработана комплексная методика, позволяющая проводить анализ параметров наноразмерной атомной и электронной структуры изучаемых материалов одновременно на основе данных трех независимых методов: рентгеновской спектроскопии поглощения (XAFS), рентгеновской дифракции (XRD) и спектроскопии комбинационного рассеяния света (КРС, Raman). Методика применена для исследования наночастиц оксида никеля NiO, которые являются эффективными катализаторами для процесса искусственного фотосинтеза.
Ключевые слова: солнечная энергетика, искусственный фотосинтез, NiO, комбинационное рассеяние, рентгеновская дифракция, XAFS
Приведены результаты моделирования икосаэдрического окружения вокруг атомов железа в кристаллах префазы Al7Cu2Fe, Al65Cu22Fe13 и структурного перехода в квазикристаллическую фазу Al70Cu20Fe10, Al65Cu22Fe13, которые изучались на основе анализа ближней тонкой структуры рентгеновских спектров поглощения (XANES). Образцы системы Al-Сu-Fe были получены методом порошковой металлургии. При температуре 550°С и выдержке 20 минут образуется ω -фаза кристалла-префазы, а при температуре 800°С и выдержкой 2 часа формируется квазикристаллическая фаза.
Представлены результаты расчета полных и парциальных плотностей электронных состояний на уровне Ферми в модели квазикристалла.
Ключевые слова: квазикристалл, Al65Cu22Fe13 , XANES, локальная, атомная и электронная структура